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	数字集成电路测试仪 BJ3140	数字集成电路测试仪 是一个高科技中档次的集成电路测试系统，其性能和指标已达到世界先进国家同类产品的水平，该系统运行稳定，测试重复性好，操作简便，可诊断性、可维护性好，性价比高。
	数字集成电路测试仪 BJ3125A	数字集成电路测试仪BJ3125A 型数字IC测试系统是BJ3125数字IC测试系统 的改型产品.采用模块化结构，继承BJ3140（美国GR-1732M）中大规模数字集成电路测试系统的优点而开发出的小型测试系统。配101数字IC测试单元可测TTL，ECL，CMOS，EPROM，RAM，EPLD等中小规模数字IC的功能、直流参数。（32Pin）
	数字集成电路测试仪 ICT33C	ICT-33C数字集成电路测试仪:可测1300种器件.可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,器件代换查询,内部RAM数据修改,EPROM、EEPROM器件读出写入.